X-Pectra代表新一代的X射线微荧光光谱仪，它用来描述许多种材料的化学混合物的结构，包括固体，液体，薄膜和粉末样品。 应用领域包括冶金和有色金属，地质，矿业，珠宝，法医科学，艺术品估，海关监察，工业化学和医药研发等. X-Pectra桌面设计紧凑，是用专利的聚合毛细管透镜技术的高强度锚准器；无维修成本，体积小重量轻；友好的操作界面；不同材料物质的微量分析，定性定量；LCD显示，隔膜键盘操作模式

应用领域
• 珠宝和重金属工业

• 法医和海关监察实验室                  
• 地质和采矿
• 水泥，难融化物和陶瓷工业
• 食品和化妆品
• 油漆和化学工业
• 工程和冶金工业
• 大学和教育研究机构
• 考古和艺术研究
• RoHs, WEEE

用户优势

• 光学显微镜准确确定样品位置

• 操纵杆操作自动显示XYZ坐标来准确确定样品位置

• 直观和易操作的硬件和软件

• USB 2.0 接口

• 符合国际最高的安全规范

• 测量范围： ppm to 100%

• 元素检测范围从 Al 到U 在标准大气压下

技术参数

测角仪

精度；带有光学编码器的准确角度；几何高精度垂直，Θ－Θ模式

X射线管

阳极电流（最大）：1.0mA；阳极电压（最大）：50kV；最大功率：50W 连续的；焦斑尺寸：-100µm；阳极材料：Cu（标准），W,Mo,Cr,Rh（可选）；冷却方式：空气冷却

瞄准

毛细管光学系统

样品台

样品位置：激光帮助；样品高度：可调；最大样品尺寸：180*200*200mm(H*W*D)；样品微调选项：适合粗糙的不均匀的粉末和定向/文理盘

安全性

符合 CE IEC EN 标准

检测器

类型： AR/CH4流动线型PSD检测器；工作气体消耗：0.17－0.45l/hr；工作压力：7.5－8.0bar；位置分辨率<80µm；Cu Ka的效率 50％在8barAR/CH4；最大计算率：70000cps（全部&当地）；多通道检测的分辨率：4096（最大）

概要

全部尺寸：830*710*780mm(H*W*D)

重量：75Kg

输入电压 100－275VAC,47-63Hz,单项

功率消耗：<100W

电脑接口：USB 2.0